§ 244. Фотопроводимость полупроводников

Фотопроводимость (см. §202) полупро­водников — увеличение электропроводно­сти полупроводников под действием элек­тромагнитного излучения — может быть связана со свойствами как основного ве­щества, так и содержащихся в нем при­месей. В первом случае при поглощении фотонов, соответствующих собственной полосе поглощения полупроводника, т. е. когда энергия фотонов равна или больше ширины запрещенной зоны (hv³DЕ), могут совершаться перебросы электронов из валентной зоны в зону про­водимости (рис. 324, а), что приведет к по­явлению добавочных (неравновесных) электронов (в зоне проводимости) и дырок (в валентной зоне). В результате возника­ет собственная фотопроводимость, обус­ловленная как электронами, так и дыр­ками.

Если полупроводник содержит приме­си, то фотопроводимость может возникать и при hv<DE: для полупроводников с до-норной примесью фотон должен обладать энергией hv>>DE_D, а для полупроводников с акцепторной примесью — hv>>DE_A. При поглощении света примесными центрами происходит переход электронов с донорных уровней в зону проводимости в случае полупроводника n-типа (рис. 324, б) или из валентной зоны на акцепторные уровни в случае полупроводника р-типа (рис. 324, в). В результате возникает при­месная фотопроводимость, являющаяся чисто электронной для полупроводников n-типа и чисто дырочной для полупровод­ников р-типа.

 

 

 

394

Таким образом, если

hv>>DE для собственных полупроводников,

(244.1)

hv>>DE_n для примесных полупроводников

(DE_n — в общем случае энергия актива­ции примесных атомов), то в полупровод­нике возбуждается фотопроводимость. Из (244.1) можно определить красную грани­цу фотопроводимости — максимальную длину волны, при которой еще фотопрово­димость возбуждается:

l₀=ch/DE для собственных полупроводников,

l₀=ch/DЕ_n для примесных полупроводников.

Учитывая значения DE и DE_n для кон­кретных полупроводников, можно пока­зать, что красная граница фотопроводимо­сти для собственных полупроводников приходится на видимую область спектра, для примесных же полупроводников — на инфракрасную.

На рис. 325 представлена типичная зависимость фотопроводимости j и коэф­фициента поглощения c от длины волны К падающего на полупроводник света. Из рисунка следует, что при l>l₀ фотопро­водимость действительно не возбуждает­ся. Спад фотопроводимости в коротковол­новой части полосы поглощения объясня­ется большой скоростью рекомбинации в условиях сильного поглощения в тонком

поверхностном слое толщиной c»1 мкм (коэффициент поглощения »10⁶м^-1).

Наряду с поглощением, приводящим к появлению фотопроводимости, может иметь место экситонный механизм погло­щения. Экситоны представляют собой ква­зичастицы — электрически нейтральные связанные состояния электрона и дырки, образующиеся в случае возбуждения с энергией, меньшей ширины запрещенной зоны. Уровни энергии экситонов распола­гаются у дна зоны проводимости. Так как экситоны электрически нейтральны, то их возникновение в полупроводнике не приво­дит к появлению дополнительных носите­лей тока, вследствие чего экситонное по­глощение света не сопровождается увели­чением фотопроводимости.